博敏电子于9月3日召开‘BM-Z-Ⅱ分布参数阻抗测试仪’专家鉴定会

2009-9-2        资料来源：PCBCity

   关键词：PCB  博敏电子召开阻抗测试仪鉴定会

    深圳市博敏电子有限公司定于2009年9月3日（星期四）召开“‘BM-Z-Ⅱ分布参数阻抗测试仪’产品研发专家鉴定会”。

    鉴定会由深圳市线路板行业协会主持，深圳市博敏电子有限公司主办，并邀请辛国胜(SPCA会长)、阮成礼（教授）、林金堵（教授）、邬宁彪（高工）、梁志立（高工）、王恒义（高工）、杨维生（高工）、杨兴全（高工）等参与鉴定。

    随着线路板（PCB）对信号传输要求越来越高，能够满足其阻抗要求的阻抗测试仪应运而生。本次鉴定会上，博敏电子将向与会专家介绍其“BM-Z-Ⅱ分布参数阻抗测试仪”的产品技术创新点、主要性能指标、产品与国外知名产品的分析比较，以及产品的市场潜力分析。